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两液槽 |
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| X-2000型两液槽温度冲击试验箱 本产品是采用人工加速的方法考验电子元器件、微电路器件耐受温度剧变的抵抗能力的装置。具有浸渍液使用量少，双筐同时工作效率高等特点，并有独特挥发浸液回收装置，亦可用水作为浸渍液。 |
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试验方法
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双样品筐作垂直上下及旋转运动,分别交替浸入两液槽(高温槽和低温槽) |
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试验浸液
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不氧化惰性液体、水
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两液槽的温度范围
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高温槽：25～150℃可调 低温槽：25～-65℃可调
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样品筐尺寸
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120××120×120(毫米)
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液槽容积
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冷槽7.6公升 热槽5.9公升
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样品重量
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≤600克（每筐300克）
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样品装载量
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≤1kg（单个样品最大重量0.2kg）
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样品转移时间
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≤10秒
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槽温上升时间
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热槽浸液FC70：25℃～150℃约90分钟
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槽温下降时间
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冷槽浸液FC77：25℃～-65℃约120分钟
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液槽温度波动度
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≤±2℃
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制泠系统
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全封闭或半封闭压缩风冷机组
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样品架驱动方式
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气动
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控制方式
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微机程控
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安全保护
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具有超温、断电保护装置
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MTBF
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≥500小时
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| 样品在两液槽的停留时间为0～30分钟，分别可调样品在温度冲击(循环)次数0～99次可预置样品能够按照预置的时间和循环次数自动运行、转换 | |
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